名称(中文):2023年美国显微镜及显微分析年会暨博览会M&M Microscopy & Microanalysis
名称(英文):M&M Microscopy & Microanalysis
展会日期:2023年08月00日-2023年08月00日
展会地点:Milwaukee, Wisconsin
展会周期:一年一届
主办单位:Microscopy Society of America
组织机构:北京中领国际展览有限公司
生物技术实验室技术
相机/数码相机系统、AFM/STM配件、抗污染系统、共聚焦显微镜、原子力显微镜、螺旋显微镜、反向散射探测器、校准和参考标准、晶体映射、电子微波、灯丝排放源、荧光显微镜、光学显微镜、金相设备、切片机和超薄切割机维修、图像分析与处理、纳米机器人等
※第51届美国显微镜及显微分析年会暨博览会M&M Microscopy & Microanalysis将于2020年08月02日-2020年08月06日在美国Milwaukee, Wisconsin中心举办。
※会议依旧按照三大主题安排:显微新技术,物理类显微分析和生物类显微分析。在TEM新技术方面,主要是围绕in-situ,low-voltage还有dynamic 4D技术展开。在SEM方面,多种新技术包括新的光学关联显微技术,空气SEM和连续切片显微技术都吸引了很多关注。物理应用方面大量的研究依旧集中在新 能源材料和二维碳基材料领域。生物方面并没有太多的亮点,cryo和3D依然是中心。另外,会议还特别开辟了针对EELS分析和模拟实验结合的议题。
※产品方面,SEM依然是厂商火力最集中的地方。新发布的SEM系统和设备包括Zeiss Gemini500系列和特殊的MultiSEM多电子束快速SEM,JEOL的JSM7200和最新的Soft X-ray探测器,Hitachi在SU9200上集成的EELS系统,还有Tescan继续上年的RISE系统和Xeia i-FIB系统。配套设备上,delmic的集合了荧光显微系统的SECOM方便的可以和SEM集合完成联动显示。更多的厂商将支持Gatan的 3View提供连续切片显微成像,还有切片胶带自动收集系统。Leica带来了最新的全自动coater和correlative系统,还有 Tedpella提供的针对correlative SEM 的套件。TEM方面,FEI带来的Talos将集合FEI自家的CCD系统和最多四组的EDS探测器轻松实现3D-SI数据收集。Hitachi发布了最 新的200KvTEM HF5000还有JEOL最新的TEM/STEM F200都是即将进入市场的新产品。Nion在会上展示了单原子EDS技术把STEM的化学分析能力提高了一大步。另外与in-situ技术配套的EM产 品也很多,包括protochip的气态环境样品杆和hummingbird的液态环境样品杆都在会中展示。
※美国是一个高度发达的资本主义超级大国,其政治、经济、军事、文化、创新等实力领衔全球。作为军事科技发达的超级大国,其高等教育水平和科研技术水平也是当之无愧的世界第一,其科研经费投入之大、研究型高校企业之多、科研成果之丰富堪称世界典范。
※据美国商务部统计,2015年1-9月,美国货物进出口额为28176.2亿美元。其中,出口11333.5亿美元;进口16842.7亿美元。贸易逆差5509.2亿美元,增长1.0%。1-9月,美国与中国双边货物进出口额为4415.6亿美元,增长3.7%。其中,美国对中国出口839.9亿美元,占美国出口总额的7.4%,提升0.2个百分点;自中国进口3575.7亿美元,增长5.5%,占美国进口总额的21.2%,提升1.9个百分点。美方贸 易逆差2735.7亿美元,增长8.4%。美国自中国的进口商品以机电产品为主,1-9月进口额1722.4亿美元,占美国自中国进口总额的48.2%, 增长4.4%。其中,电机和电气产品进口949.7亿美元,增长7.4%;机械设备进口772.7亿美元,增长1.0%。
组团单位与参展企业在充分了解展会的基础上,本着自愿、平等互利的原则签订此参展申请表。
安防灾难控制办公设备和用品 办公设备和用品
安防灾难控制办公设备和用品 办公设备和用品
橙色代表已有参展企业,蓝色代表未有参展企业。
时间:2023年02月00日-2023年02月00日
时间:2023年03月00日-2023年03月00日